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보유기기현황

재료분석부

전계방사형투과전자현미경
장비이미지 장비이미지
한글장비명 전계방사형투과전자현미경 영문장비명 Field Emmission Transmission Electron Microscope
모델명 JEM-2100F 제작국가 일본
제작사 JEOL 공급사 JEOL
원리 및 특징 얇은 시편을 투과한 전자등을 이용하여 상 또는 회절패턴을 얻어 재료의 상관찰 및 구조해석에 이용되며, EDS(Energy Dispersive X-ray Spectroscopy)를 이용하여 화학성분을 분석한다.
주요구성 및 성능
  • Accelerating voltage : 100~200kV
  • Resolution
    • Lattice image : 0.1nm
    • Point to point : 0.23nm
  • Magnification : *8,00~*1,500,000(at 200kV)
  • Analysis elements : 4Be~92U

투과전자현미경
장비이미지 장비이미지
한글장비명 투과전자현미경 영문장비명 Transmission Electron Microscope
모델명 H-8100 제작국가 일본
제작사 Hitachi 공급사 ㈜이공교역
원리 및 특징 얇은 시편을 투과한 전자등을 이용하여 상 또는 회절패턴을 얻어 재료의 상관찰 및 구조해석에 이용되며, EDS(Energy Dispersive X-ray Spectroscopy)를 이용하여 화학성분을 분석한다.
주요구성 및 성능
  • Accelerating voltage : 75~200kV
  • Resolution
    • Lattice image : 0.14nm
    • Point to point : 0.21nm
  • Magnification : *100~*1,000,000(at 200kV)
  • Analysis elements : C~U

X-Ray 회절분석기
장비이미지 장비이미지
한글장비명 X-Ray 회절분석기 영문장비명 X-Ray Diffractometer
모델명 ULTIMA 4 제작국가 일본
제작사 Rigaku 공급사 ㈜한국아이티에스
원리 및 특징 X-선이 물질의 결정면에서 회절, 산란되는 현상을 이용한 것으로 X선 회절 패턴을 측정하여 물질의 구조 및 화학적 결합상태 등을 분석한다
주요구성 및 성능
  • 측정범위 : -3 ~ 160℃
  • X-ray source : Cu target
  • 최대용량 : 2㎾
  • Radius of Horizontal Goniometer : 185㎜

전계방사형 주사전자현미경(FE-SEM)
장비이미지 장비이미지
한글장비명 전계방사형 주사전자현미경(FE-SEM) 영문장비명 Field Emmission Scanning Electron Microscope
모델명 JSM-6500 제작국가 일본
제작사 JEOL 공급사 JEOL
원리 및 특징 Schottky형 전자총을 갖는 고분석능 전계 방출주사전자 현미경 전자를 주사하여 분석대상 시료의 미세구조, 성분을 분석할 수 있는 장치
주요구성 및 성능
  • 전자현미경부 : 시료의 미세구조 분석 (분석능 1.5mm이상)
  • EDS부 : 시료의성분(정량,정성)분석
  • EBSP : 시료의 결정구조 분석

전계방사형 주사전자현미경(FE-SEMⅡ)
장비이미지 장비이미지
한글장비명 전계방사형 주사전자현미경(FE-SEMⅡ) 영문장비명 Field Emmission Scanning Electron Microscope
모델명 JSM-7600 제작국가 일본
제작사 JEOL 공급사 JEOL
원리 및 특징 Schottky형 전자총을 갖는 고분석능 전계 방출주사전자 현미경 전자를 주사하여 분석대상 시료의 미세구조, 성분을 분석할 수 있는 장치
주요구성 및 성능
  • 전자현미경부 : 시료의 미세구조 분석 (분석능 1.5mm이상)
  • EDS부 : 시료의성분(정량,정성)분석
  • EBSP : 시료의 결정구조 분석

입도분석기
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한글장비명 입도분석기 영문장비명 Particle Size Analyzer
모델명 LA-960 제작국가 일본
제작사 HORIBA 공급사 HORIBA
원리 및 특징 레이저의 분산, 산란, 굴절을이용해 입도를 측정한다
주요구성 및 성능 size range : 0.01 to 3000um or wider in one mesurement

열분석기
장비이미지 장비이미지
한글장비명 열분석기 영문장비명 Differential Scanning Calorimeter
모델명 DSC 404 F3 제작국가 독일
제작사 네취코리아 공급사 네취코리아
원리 및 특징 온도를 정해진 속도로 변환시키면서 시편에서 일어나는 물리, 화학적 변화(무게, 온도, 엔탈피 및 치수)를 측정하는 것. 승화, 증발, 흡수, 자기적 큐리온도, 자화율(magnetic susceptibility) 연구, 그 외 각종 화학적 변화, 즉 유기 용업원료의 열분해, 각종 carbonates, chlorides, sulfates 등의 열분해, 각종 광물의 열분해, 습기, 증발체 및 초전도체의 산소함량결정 및 각종 화학반응의 운동역학(Kinetics) 연구에 활용
주요구성 및 성능 Furnacd : Silicon carbide furnace, Operating temp. rang : 25 ~ 2550° C, 승온 속도 : 5 K/min ~ 50 K/min, Thermocouple types : S, E, K, B, W/Re, SProtected, P, 분위기 : Inert, Oxidizing, Static, Dynamic

열분석기(DSC-TGA)
장비이미지 장비이미지
한글장비명 열분석기(DSC-TGA) 영문장비명 Differential Scanning Calorimeter
모델명 SDT Q600 제작국가 미국
제작사 TA 공급사 TA
원리 및 특징 상온에서 1500℃까지 측정시료에 열을 가하여 각각의 온도변화에 따른 물질의 중량변화(TGA)와 열 흐름의 차이(DSC)를 동시에 측정하여, 온도 및 시간의 변화에 따른 시료의 무게 변화측정을 통하여 산화안정성, 반응속도의 계산, 열안정성, 물질의 구성비 등에 관한 정보를 얻을 수 있다.
주요구성 및 성능
  • 측정 온도 범위 : 상온 ~ 1500℃
  • 온도재현성 : ±0.1°C, based on metal standards
  • 저울감도 : 0.1μg
  • DTA 감도 : 0.001°C(0.01μV)
  • 시료최대량 : 200mg(350mg Including sample holder)
  • 승온 속도
    • (상온~1000℃) 0.1 ~ 100℃/min 승온 속도
    • (상온~1500℃) 0.1 ~ 50℃/min
  • 열량 정확도/정밀도 : ±2% (based on metal standards)